Today’s innovations are led by new Integrated Circuits (IC). This is a tremendous competitive sector that requires very high volumes with impeccable quality. Cost of test is often looked upon in order to be more profitable as a business.
Whether it is automated test for IC (mixed-signal and RF), wafer test, V&V or Caraterixation systems, Neosoft Technologies has capabilities to help you succeed.
Le but de ce projet est de réaliser un système de détection de dépassement de seuil en temps réel permettant de calculer la durée de chaque étape d’un cycle de gravure à partir d’un signal échantillonné. Le logiciel est configurable pour une multitude de recettes de micro fabrication et permet de sauvegarder les résultats pour […]
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